• oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch
  • oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch
  • oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch
  • oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch
oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch

oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch

Datos del producto:

Lugar de origen: China
Nombre de la marca: ZMKJ
Número de modelo: 2inch*0.625mmt

Pago y Envío Términos:

Cantidad de orden mínima: 10pcs
Precio: by case
Detalles de empaquetado: solo paquete de la oblea en sitio de limpieza de 100 grados
Tiempo de entrega: 2-4 semanas
Condiciones de pago: T / T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente: 1-50pcs/month
Mejor precio Contacto

Información detallada

Material: Tipo cristalino sic solo 4H-N Grado: Maniquí/grado de la producción de la investigación
Thicnkss: 0.625M M Suraface: como-corte
Uso: prueba polaca del dispositivo Diámetro: 50.8m m
Alta luz:

substrato del carburo de silicio

,

sic oblea

Descripción de producto

 

 
De Customzied size/10x10x0.5mmt/2inch/3inch/4inch/6inch 6H-N/4H-SEMI/4H-N SIC de los lingotes/de los substratos wafersS/Customzied del solo cristal del carburo de silicio del diámetro 150m m de la pureza elevada 4H-N 4inch 6inch (sic) del como-corte obleas sic

Sobre cristal del carburo de silicio (sic)

 

El carburo de silicio (sic), también conocido como carborundo, es un semiconductor que contiene el silicio y el carbono con fórmula química sic. Sic se utiliza en los dispositivos de la electrónica del semiconductor que actúan en las temperaturas altas o los altos voltajes, o both.SiC es también uno de los componentes importantes del LED, es un substrato popular para crecer los dispositivos de GaN, y también sirve como esparcidor del calor en LED de altas potencias.

1. Descripción

PROPIEDADES MATERIALES DEL CARBURO DE SILICIO

Propiedad

4H-SiC, solo cristal

6H-SiC, solo cristal

Parámetros del enrejado

a=3.076 Å c=10.053 Å

a=3.073 Å c=15.117 Å

Amontonamiento de secuencia

ABCB

ABCACB

Dureza de Mohs

9,2

9,2

Densidad

3,21 g/cm3

3,21 g/cm3

Therm. Coeficiente de la extensión

4-5×10-6/K

4-5×10-6/K

Índice @750nm de la refracción

ningunos = 2,61 ne = 2,66

ningunos = 2,60 ne = 2,65

Constante dieléctrica

c~9.66

c~9.66

Conductividad termal (N-tipo, 0,02 ohm.cm)

a~4.2 W/cm·K@298K c~3.7 W/cm·K@298K

 

Conductividad termal (semiaislante)

a~4.9 W/cm·K@298K c~3.9 W/cm·K@298K

a~4.6 W/cm·K@298K c~3.2 W/cm·K@298K

Banda-Gap

eV 3,23

eV 3,02

Campo eléctrico de la avería

los 3-5×106V/cm

los 3-5×106V/cm

Velocidad de deriva de la saturación

2,0×105 m/s

2,0×105 m/s

4 pulgadas n-doparon la oblea del carburo de silicio 4H sic

oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch 1oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch 2oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch 3oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch 4

 

especificación del substrato del carburo de silicio de 2 pulgadas de diámetro (sic)

Grado

Grado de la producción

Grado de la investigación

Grado simulado

 Diámetro

50,8 mm±0.38 milímetro

 Grueso

330 μm±25μm o customzied

 

Orientación de la oblea

En eje: <0001> ±0.5° para 6H-N/4H-N/4H-SI/6H-SI del eje: 4.0° hacia el  1120 del  ±0.5° para 4H-N/4H-SI

 Densidad de Micropipe

cm2s ≤5

cm2s ≤15

cm2s ≤50

Resistencia

4H-N

0.015~0.028 Ω·cm

6H-N

0.02~0.1 Ω·cm

4/6H-SI

>1E5 Ω·cm

(el 90%) >1E5 Ω·cm

 Plano primario

{10-10} ±5.0°

Longitud plana primaria

15,9 mm±1.7 milímetro

 Longitud plana secundaria

8,0 mm±1.7 milímetro

 Orientación plana secundaria

Silicio cara arriba: El 90° CW. de ±5.0° plano primero

Exclusión del borde

1 milímetro

 TTV/Bow /Warp

≤15μm/≤25μm/≤25μm

Aspereza

Ra≤1 polaco nanómetro

CMP Ra≤0.5 nanómetro


Grietas por la luz de intensidad alta

Ninguno

Ninguno

1 permitida, ≤1 milímetro

Placas del hex. por la luz de intensidad alta

Area≤ acumulativo el 1%

Area≤ acumulativo el 1%

Area≤ acumulativo el 3%


Áreas de Polytype por la luz de intensidad alta

Ninguno

Area≤ acumulativo el 2%

El area≤5% acumulativo


Rasguños por la luz de intensidad alta

3 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer

5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer

8 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer

Microprocesador del borde

Ninguno

3 permitida, ≤0.5 milímetro cada uno

5 permitida, ≤1 milímetro cada uno

   
 
CATÁLOGO   TAMAÑO COMÚN
                            
 

 

4 H-N Type/oblea/lingotes de la pureza elevada sic
2 N-tipo sic oblea/lingotes de la pulgada 4H
3 N-tipo sic oblea de la pulgada 4H
4 N-tipo sic oblea/lingotes de la pulgada 4H
6 N-tipo sic oblea/lingotes de la pulgada 4H

 
oblea de la pureza semiaislante/elevada de 4H sic

2 oblea semiaislante de la pulgada 4H sic
3 oblea semiaislante de la pulgada 4H sic
4 oblea semiaislante de la pulgada 4H sic
6 oblea semiaislante de la pulgada 4H sic
 
 
6H N-tipo sic oblea
2 N-tipo sic oblea/lingote de la pulgada 6H
 
 Tamaño de Customzied para 2-6inch
 
 

Sobre ZMKJ Company
 
ZMKJ puede proporciona la oblea de alta calidad del solo cristal sic (carburo de silicio) a la industria electrónica y optoelectrónica. Sic la oblea es un material del semiconductor de la siguiente generación, con las propiedades eléctricas únicas y las propiedades termales excelentes, comparadas a la oblea de silicio y a la oblea del GaAs, sic oblea son más convenientes para la aplicación para dispositivos de la temperatura alta y del poder más elevado. Sic la oblea se puede suministrar en pulgada del diámetro 2-6, 4H y 6H sic, N-tipo, nitrógeno dopado, y tipo semiaislante disponible. Éntrenos en contacto con por favor para más información de producto.

 
Nuestros productos de la relación
 Obleas cristalinas LaAlO3/SrTiO3/obleas Ruby Ball/obleas de la lente LiTaO3 del wafer& del zafiro sic de Gap

oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch 5

FAQ:

Q: ¿Cuál es la manera de término del envío y del coste y de la paga?

: (1) aceptamos el 100% T/T por adelantado por DHL, Fedex, el ccsme etc.

(2) si usted tiene su propia cuenta expresa, es grande. Si no, podríamos ayudarle a enviarlos.

La carga está de acuerdo con el acuerdo real.

 

Q: ¿Cuál es su MOQ?

: (1) para el inventario, el MOQ es 2pcs.

(2) para los productos modificados para requisitos particulares, el MOQ es 10pcs para arriba.

 

Q: ¿Puedo modificar los productos para requisitos particulares basados en mi necesidad?

: Sí, podemos modificar el material, las especificaciones y la forma para requisitos particulares, tamaño basado en sus necesidades.

 

Q: ¿Cuál es plazo de expedición?

: (1) para los productos estándar

Para el inventario: la entrega es 5 días laborables después de que usted pone la orden.

Para los productos modificados para requisitos particulares: la entrega es 2 o 3 semanas después de que usted pone la orden.

(2) para los productos especial-formados, la entrega es 4 workweeks después de que usted ponga la orden.

 

Quiere saber más detalles sobre este producto
No input file specified. oblea 6H-N/4 H-N Dummy sic Crystal Wafers For Device Test del carburo de silicio de 2Inch 4inch ¿podría enviarme más detalles como tipo, tamaño, cantidad, material, etc.?
¡Gracias!
Esperando su respuesta.