Nombre De La Marca: | ZMSH |
Número De Modelo: | 4 pulgadas |
MOQ: | 10 |
Precio: | 5 USD |
Detalles Del Embalaje: | cartones a medida |
Condiciones De Pago: | T/T |
Las obleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas (200 mm) están emergiendo como el factor de forma más avanzado en la industria de SiC.8 ¢ Las obleas epitaxiales de SiC ofrecen oportunidades sin precedentes para ampliar la producción de dispositivos de potencia al tiempo que reducen el costo por dispositivo.
A medida que la demanda de vehículos eléctricos, energía renovable y electrónica de potencia industrial continúa aumentando a nivel mundial, las obleas 8 ′′ están permitiendo una nueva generación de MOSFETs SiC, diodos,y módulos de potencia integrados con mayor rendimiento, mejor rendimiento y menores costes de fabricación.
Con propiedades de banda ancha, alta conductividad térmica y un voltaje de ruptura excepcional, las obleas de SiC 8 ′′ están desbloqueando nuevos niveles de rendimiento y eficiencia en la electrónica de potencia avanzada.
Cómo se fabrican las obleas epitaxiales de 8 ̊ SiC
La fabricación de obleas epitaxiales de 8 ′′ SiC requiere reactores CVD de próxima generación, control preciso del crecimiento del cristal y tecnología de sustrato ultraplano:
Fabricación de sustratos
Los sustratos monocristalinos de SiC 8 ′ se producen mediante técnicas de sublimación a altas temperaturas y posteriormente se pulieron hasta una rugosidad inferior a los nanómetros.
Enfermedad cardiovascular Crecimiento epitaxial
Las herramientas avanzadas de CVD a gran escala operan a ~ 1600 °C para depositar capas epitaxiales de SiC de alta calidad en los sustratos 8 ′′, con flujo de gas y uniformidad de temperatura optimizados para manejar el área más grande.
Dopaje adaptado
Los perfiles de dopado de tipo N o P se crean con una alta uniformidad en toda la oblea de 300 mm.
Metrología de precisión
El control de uniformidad, el monitoreo de defectos de cristal y la gestión del proceso in situ aseguran la consistencia desde el centro de la oblea hasta el borde.
Aseguramiento integral de la calidad
Cada oblea se valida mediante:
AFM, Raman y XRD
Mapeo de defectos de las placas completas
Análisis de rugosidad de la superficie y de la curvatura
Medidas de las propiedades eléctricas
Grado | El substrato de SiC del tipo 8InchN | ||
1 | Polítipo | - ¿Qué quieres decir? | 4HSiC |
2 | Tipo de conductividad | - ¿Qué quieres decir? | No |
3 | Diámetro | En el caso de los | 200.00±0,5 mm |
4 | El grosor | ¿ Qué es eso? | 700 ± 50 μm |
5 | Eje de orientación de la superficie de cristal | Grado | 40,0° hacia ± 0,5° |
6 | Profundidad | En el caso de los | 1 ~ 1,25 mm |
7 | Orientación en muesca | Grado | ± 5° |
8 | Resistividad (promedio) | Ocm | No incluido |
9 | TTV | ¿ Qué es eso? | No incluido |
10 | El valor de la renta variable | ¿ Qué es eso? | No incluido |
11 | - ¿ Por qué? | ¿ Qué es eso? | No incluido |
12 | La velocidad warp. | ¿ Qué es eso? | No incluido |
13 | MPD (Departamento de Protección del Medio Ambiente) | cm-2 | No incluido |
14 | TSD | cm-2 | No incluido |
15 | PDE | cm-2 | No incluido |
16 | TED | cm-2 | No incluido |
17 | El EPD | cm-2 | No incluido |
18 | Extranjería Polytipos | - ¿Qué quieres decir? | No incluido |
19 | SF ((BSF) ((2x2mm tamaño de la red) | % | No incluido |
20 | El número de unidades de la red se calculará en función de las características de la red. | % | No incluido |
21 | No se incluye | En el caso de los | No incluido |
22 | Rasguños visuales | - ¿Qué quieres decir? | No incluido |
23 | Duración acumulada de los arañazos (Si) en la superficie | En el caso de los | No incluido |
24 | SiFace | - ¿Qué quieres decir? | CMPolished (político) |
25 | CFace | - ¿Qué quieres decir? | CMPolished (político) |
26 | Roughness de superficie (Siface) | nm | No incluido |
27 | Roughness de la superficie (en el caso de la superficie) | nm | No incluido |
28 | marcado por láser | - ¿Qué quieres decir? | C-Face, por encima del Notch |
29 | Edgechip ((Front&backSurfaces) Las superficies delanteras y traseras | - ¿Qué quieres decir? | No incluido |
30 | Las demás: | - ¿Qué quieres decir? | No incluido |
31 | Las grietas | - ¿Qué quieres decir? | No incluido |
32 | Particulares (≥ 0,3um) | - ¿Qué quieres decir? | No incluido |
33 | Zona de contaminación (manchas) | - ¿Qué quieres decir? | Ninguno: Ambas caras |
34 | Contaminación por metales residuales (ICP-MS) | átomo/cm2 | No incluido |
35 | Profile de la orilla | - ¿Qué quieres decir? | Chamfer, en forma de R |
36 | Embalaje | - ¿Qué quieres decir? | Contenedor de multi-wafer o de una sola wafer |
8 Las obleas epitaxales de SiC permiten la producción en masa de dispositivos de potencia fiables en sectores como:
Vehículos eléctricos (VE)
Inversores de tracción, cargadores integrados y convertidores de CC/CC.
Energía renovable
Inversores de energía solar, convertidores de energía eólica.
Dispositivos de conducción industrial
Unidad de motor eficiente, servosistemas.
Infraestructura 5G / RF
Amplificadores de potencia y interruptores de RF.
Electrónica de consumo
Fuentes de alimentación compactas y de alta eficiencia.
1¿Cuál es el beneficio de las obleas de 8 ′′ SiC?
Reducen significativamente el coste de producción por chip a través del aumento de la superficie de las obleas y el rendimiento del proceso.
2¿Qué tan madura es la producción de 8 ̊ SiC?
Nuestras obleas están disponibles ahora para I+D y aumento de volumen.
3¿Se puede personalizar el dopaje y el grosor?
Sí, la personalización completa del perfil de dopaje y el grosor de epi está disponible.
4¿Son las fábricas existentes compatibles con las obleas de 8 ̊ SiC?
Se necesitan actualizaciones menores del equipo para una compatibilidad completa con 8 ̊.
5¿Cuál es el tiempo de entrega típico?
6-10 semanas para los pedidos iniciales; más corta para los volúmenes repetidos.
6¿Qué industrias adoptarán 8 ̊ SiC más rápido?
Sectores de la automoción, las energías renovables y la infraestructura de la red.
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