Nombre De La Marca: | ZMSH |
MOQ: | 5 |
Precio: | by case |
Detalles Del Embalaje: | Cartones personalizados |
Condiciones De Pago: | T/T |
Obleas de SiC semi-aislantes de alta purezaestán diseñadas para la electrónica de potencia de próxima generación, dispositivos de RF/microondas y optoelectrónica. Nuestras obleas se fabrican a partir de monocristales de 4H- o 6H-SiC utilizando un proceso optimizado de transporte de vapor físico (PVT) combinado con un recocido de compensación de nivel profundo. El resultado es una oblea con:
Resistividad ultra alta: ≥1×10¹² Ω·cm, para suprimir las corrientes de fuga en dispositivos de conmutación de alto voltaje
Banda prohibida amplia (~3,2 eV): Mantiene un rendimiento eléctrico superior en condiciones de alta temperatura, alto campo y alta radiación
Conductividad térmica excepcional: >4,9 W/cm·K, para una rápida eliminación del calor en módulos de alta potencia
Resistencia mecánica excepcional: Dureza Mohs de 9,0 (solo superada por el diamante), baja expansión térmica y excelente estabilidad química
Superficie atómicamente lisa: Ra < 0,4 nm con una densidad de defectos < 1/cm², ideal para epitaxia MOCVD/HVPE y micro-nano fabricación
Tamaños disponibles: 50, 75, 100, 150, 200 mm (2″–8″) estándar; diámetros personalizados de hasta 250 mm bajo pedido.
Rango de espesor: 200–1 000 μm con una tolerancia de ±5 μm.
Preparación de polvo de SiC de alta pureza
Material de partida: polvo de SiC de grado 6N purificado mediante sublimación al vacío de múltiples etapas y tratamiento térmico para reducir los contaminantes metálicos (Fe, Cr, Ni < 10 ppb) y eliminar las inclusiones policristalinas.
Crecimiento de monocristales PVT modificado
Entorno: 10⁻³–10⁻² Torr de vacío cercano
Temperatura: Crisol de grafito calentado a ~2 500 °C; gradiente térmico controlado ΔT ≈ 10–20 °C/cm
Flujo de gas y diseño del crisol: Los separadores de grafito poroso y la geometría del crisol a medida garantizan una distribución uniforme del vapor e inhiben la nucleación no deseada
Alimentación y rotación dinámicas: El reabastecimiento periódico de polvo de SiC y la rotación de la varilla de cristal producen bajas densidades de dislocación (< 3 000 cm⁻²) y una orientación consistente de 4H/6H
Recocido de compensación de nivel profundo
Recocido con hidrógeno: 600–1 400 °C en atmósfera de H₂ durante varias horas para activar trampas de nivel profundo y compensar los portadores intrínsecos
Co-dopaje N/Al (Opcional): Incorporación precisa de dopantes de Al (aceptor) y N (donante) durante el crecimiento o CVD posterior al crecimiento para crear pares donante-aceptor estables, impulsando los picos de resistividad
Corte de precisión y lapeado de múltiples etapas
Aserrado con hilo de diamante: Corta obleas a un espesor de 200–1 000 μm con una capa de daño mínima; tolerancia de espesor ±5 μm
Lapeado de grueso a fino: Uso secuencial de abrasivos de diamante para eliminar el daño del aserrado y preparar el pulido
Pulido químico-mecánico (CMP)
Medios de pulido: Suspensión de nano-óxido (SiO₂ o CeO₂) en una suspensión alcalina suave
Control del proceso: Los parámetros de pulido de baja tensión ofrecen una rugosidad RMS de 0,2–0,4 nm y eliminan los microarañazos
Limpieza final y embalaje de clase 100
Limpieza ultrasónica de múltiples pasos: Disolvente orgánico → tratamientos ácido/base → enjuague con agua desionizada, todo realizado en una sala limpia de clase 100
Secado y sellado: Secado con purga de nitrógeno, sellado en bolsas protectoras llenas de nitrógeno y alojado en cajas exteriores antiestáticas y amortiguadoras de vibraciones
Nº | Tamaño de la oblea | Tipo/Dopante | Orientación | Espesor | MPD | RT | Pulido | Rugosidad superficial |
1 | 2" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 350 ± 25 um | <50 cm-2 | >=1E5 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
2 | 2" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 350 ± 25 um | <15 cm-2 | >=1E7 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
3 | 3" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 350 ± 25 um | <50 cm-2 | >=1E5 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
4 | 3" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 350 ± 25 um | <15 cm-2 | >=1E7 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
5 | 4" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 350 o 500 ± 25 um | <50 cm-2 | >=1E5 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
6 | 4" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 350 o 500 ± 25 um | <15 cm-2 | >=1E7 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
7 | 6" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 500 ± 25 um | <50 cm-2 | >=1E5 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
8 | 6" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 500 ± 25 um | <15 cm-2 | >=1E7 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
9 | 8" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 500 ± 25 um | <50 cm-2 | >=1E5 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
10 | 8" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 500 ± 25 um | <15 cm-2 | >=1E7 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
11 | 12" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 500 ± 25 um | <50 cm-2 | >=1E5 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
12 | 12" 4H | Semi-aislante / V o sin dopar | <0001>+/-0,5 grados | 500 ± 25 um | <15 cm-2 | >=1E7 Ω•cm | Pulido de doble cara/cara Si lista para epi con CMP | <0,5 nm |
Electrónica de alta potencia
Los MOSFET de SiC, los diodos Schottky, los inversores de alto voltaje y los módulos de alimentación de vehículos eléctricos de carga rápida aprovechan la baja resistencia de encendido y el alto campo de ruptura del SiC.
Sistemas de RF y microondas
Los amplificadores de potencia de estaciones base 5G/6G, los módulos de radar de ondas milimétricas y los front-ends de comunicación por satélite exigen el rendimiento de alta frecuencia y la resistencia a la radiación del SiC.
Optoelectrónica y fotónica
Los LED UV, los diodos láser azules y los fotodetectores de banda prohibida ancha se benefician de un sustrato atómicamente liso y sin defectos para una epitaxia uniforme.
Detección en entornos extremos
Los sensores de presión/temperatura de alta temperatura, los elementos de monitoreo de turbinas de gas y los detectores de grado nuclear explotan la estabilidad del SiC por encima de 600 °C y bajo un alto flujo de radiación.
Aeroespacial y defensa
La electrónica de potencia de satélites, los radares montados en misiles y los sistemas de aviónica requieren la robustez del SiC en el vacío, los ciclos de temperatura y los entornos de alta G.
Investigación avanzada y soluciones personalizadas
Sustratos de aislamiento de computación cuántica, óptica de microcavidades y formas de ventana a medida (esféricas, con ranura en V, poligonales) para I+D de vanguardia.
¿Por qué elegir SiC semi-aislante en lugar de SiC conductor?
El SiC semi-aislante exhibe una resistividad ultra alta a través de la compensación de nivel profundo, lo que reduce en gran medida las corrientes de fuga en dispositivos de alto voltaje y alta frecuencia, mientras que el SiC conductor es adecuado para aplicaciones de canal MOSFET de menor voltaje o potencia.
¿Pueden estas obleas ir directamente al crecimiento epitaxial?
Sí. Ofrecemos obleas semi-aislantes "listas para epi" optimizadas para MOCVD, HVPE o MBE, completas con tratamiento de superficie y control de defectos para garantizar una excelente calidad de la capa epitaxial.
¿Cómo se garantiza la limpieza de la oblea?
Un proceso de sala limpia de clase 100, limpieza química y ultrasónica de múltiples pasos, además de un embalaje sellado con nitrógeno, garantizan prácticamente cero partículas, residuos orgánicos o microarañazos.
¿Cuál es el plazo de entrega típico y el pedido mínimo?
Las muestras (hasta 5 piezas) se envían en un plazo de 7 a 10 días hábiles. Los pedidos de producción (MOQ = 5 obleas) se entregan en 4 a 6 semanas, según el tamaño y las características personalizadas.
¿Ofrecen formas o sustratos personalizados?
Sí. Además de las obleas circulares estándar, fabricamos ventanas planas, piezas con ranura en V, lentes esféricas y otras geometrías a medida.
ZMSH se especializa en el desarrollo, producción y venta de vidrio óptico especial y nuevos materiales cristalinos. Nuestros productos sirven a la electrónica óptica, la electrónica de consumo y los militares. Ofrecemos componentes ópticos de zafiro, cubiertas de lentes de teléfonos móviles, cerámica, LT, carburo de silicio SIC, cuarzo y obleas de cristal semiconductor. Con experiencia calificada y equipos de vanguardia, sobresalimos en el procesamiento de productos no estándar, con el objetivo de ser una empresa de alta tecnología líder en materiales optoelectrónicos.