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Detalles de los productos

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Oblea del carburo de silicio
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Wafer epitaxial de carburo de silicio de 8 pulgadas (Wafer Epi SiC)

Wafer epitaxial de carburo de silicio de 8 pulgadas (Wafer Epi SiC)

Nombre De La Marca: ZMSH
Número De Modelo: Oblea SiC Epi
MOQ: 1
Precio: by case
Detalles Del Embalaje: Cartones personalizados
Condiciones De Pago: T/T
Información detallada
Lugar de origen:
Porcelana
Capacidad de la fuente:
Por caso
Resaltar:

Oblea de carburo de silicio de 8 pulgadas

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oblea epitaxial de SiC

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oblea epi de carburo de silicio con garantía

Descripción de producto

Descripción general del producto

La oblea epitaxial de carburo de silicio (SiC) de 8 pulgadas es un material semiconductor de alto rendimiento diseñado para la electrónica de potencia de próxima generación. Construida sobre sustratos de SiC de alta calidad de 8 pulgadas, la capa epitaxial se cultiva utilizando tecnología avanzada de deposición química de vapor (CVD) para lograr un espesor preciso, control de dopaje y una calidad cristalina superior.

 

En comparación con las obleas de silicio tradicionales, las obleas epitaxiales de SiC ofrecen propiedades eléctricas, térmicas y mecánicas excepcionales, lo que las hace ideales para aplicaciones de alto voltaje, alta frecuencia y alta temperatura.

 

Wafer epitaxial de carburo de silicio de 8 pulgadas (Wafer Epi SiC) 0     Wafer epitaxial de carburo de silicio de 8 pulgadas (Wafer Epi SiC) 1


Principio de funcionamiento

La capa epitaxial de SiC se deposita sobre un sustrato de SiC pulido a través de un proceso CVD a alta temperatura. Durante el crecimiento:

  • Los gases que contienen silicio y carbono reaccionan a temperaturas elevadas
  • Se forma una capa de SiC monocristalina siguiendo la red del sustrato
  • Se introducen gases dopantes (tipo N o tipo P) para controlar las propiedades eléctricas

Esta capa epitaxial sirve como la región activa para la fabricación de dispositivos, permitiendo un control preciso del rendimiento del dispositivo, como el voltaje de ruptura y la resistencia en encendido.

 

Wafer epitaxial de carburo de silicio de 8 pulgadas (Wafer Epi SiC) 2

 


Características clave

  • Diámetro grande (8 pulgadas / 200 mm): Admite fabricación de alto volumen y reducción de costos
  • Baja densidad de defectos: Minimiza microporos y dislocaciones
  • Excelente uniformidad de espesor: Asegura un rendimiento constante del dispositivo
  • Control preciso del dopaje: Admite características eléctricas personalizadas
  • Alta conductividad térmica: Adecuado para aplicaciones de alta potencia
  • Amplia banda prohibida (~3.26 eV): Permite operación a alta temperatura y alto voltaje

 


Especificaciones típicas

Wafer epitaxial de carburo de silicio de 8 pulgadas (Wafer Epi SiC) 3 

Artículo Especificación
Diámetro de la oblea 8 pulgadas (200 mm)
Tipo de sustrato 4H-SiC
Tipo de conductividad Tipo N / Semi-aislante
Espesor de la capa epitaxial 5 – 100 µm (personalizable)
Concentración de dopaje 1E14 – 1E19 cm⁻³
Uniformidad de espesor ≤ ±5%
Rugosidad superficial Ra ≤ 0.5 nm
Densidad de defectos Baja densidad de microporos
Orientación 4° fuera de eje o en eje
 

 

 

 


Aplicaciones

Las obleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas se utilizan ampliamente en dispositivos avanzados de potencia y RF, que incluyen:

  • Vehículos Eléctricos (VE): Inversores, cargadores a bordo
  • Sistemas de Energía Renovable: Inversores solares, convertidores de energía eólica
  • Módulos de Potencia Industriales: Unidades de motor de alta eficiencia
  • Sistemas de Carga Rápida: Dispositivos de conmutación de alta frecuencia
  • Dispositivos 5G y RF: Amplificadores de RF de alta potencia

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Ventajas sobre el silicio

  • Campo eléctrico de ruptura más alto (≈10× el del silicio)
  • Menores pérdidas de conmutación
  • Mayor temperatura de operación (>200°C)
  • Mejor eficiencia energética
  • Reducción del tamaño del sistema y los requisitos de refrigeración

 


Proceso de fabricación

La producción de obleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas implica:

  1. Preparación del sustrato – Pulido y limpieza de obleas de SiC de alta pureza
  2. Crecimiento epitaxial (CVD) – Deposición controlada de la capa de SiC
  3. Control de dopaje – Introducción precisa de dopantes
  4. Tratamiento de superficie – Pulido CMP para una superficie ultra lisa
  5. Inspección y pruebas – Verificación de espesor, defectos y propiedades eléctricas

 


Preguntas frecuentes

P1: ¿Cuál es la diferencia entre un sustrato de SiC y una oblea epitaxial de SiC?

R: El sustrato es el material base, mientras que la capa epitaxial es la capa funcional donde se fabrican los dispositivos.

 

P2: ¿Se puede personalizar el espesor de la capa epitaxial y el dopaje?

R: Sí, tanto el espesor como la concentración de dopaje se pueden adaptar según los requisitos del dispositivo.

 

P3: ¿Por qué elegir obleas de SiC de 8 pulgadas?

R: El mayor tamaño de la oblea mejora la eficiencia de producción y reduce el costo por dispositivo, lo que permite la producción en masa.