| Nombre De La Marca: | ZMSH |
| MOQ: | 1 |
| Precio: | by case |
| Detalles Del Embalaje: | cajas personalizadas |
| Condiciones De Pago: | T/T |
Las obleas epitaxiales de SiC se están convirtiendo en el factor de forma más avanzado en la industria del SiC. Las obleas epitaxiales de SiC de 8 pulgadas, que representan la vanguardia de la ciencia de los materiales y la capacidad de fabricación, ofrecen oportunidades incomparables para aumentar la producción de dispositivos de energía y, al mismo tiempo, reducir el costo por dispositivo.
A medida que la demanda de vehículos eléctricos, energía renovable y electrónica de potencia industrial continúa aumentando a nivel mundial, las obleas están permitiendo una nueva generación de MOSFET de SiC, diodos y módulos de potencia integrados con mayor rendimiento, mejor rendimiento y menores costos de fabricación.
Con propiedades de banda prohibida amplia, alta conductividad térmica y voltaje de ruptura excepcional, las obleas de SiC están desbloqueando nuevos niveles de rendimiento y eficiencia en la electrónica de potencia avanzada.
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Cómo se fabrican las obleas epitaxiales de SiC
La fabricación de obleas epitaxiales de SiC requiere reactores CVD de próxima generación, un control preciso del crecimiento de los cristales y tecnología de sustrato ultraplano:
Fabricación de sustrato
Los sustratos de SiC monocristalino se producen mediante técnicas de sublimación a alta temperatura y posteriormente se pulen hasta obtener una rugosidad subnanométrica.
Crecimiento epitaxial de ECV
Las herramientas CVD avanzadas a gran escala funcionan a ~1600 °C para depositar capas epitaxiales de SiC de alta calidad sobre los sustratos de 8”, con flujo de gas optimizado y uniformidad de temperatura para manejar un área más grande.
Dopaje a medida
Los perfiles de dopaje tipo N o P se crean con alta uniformidad en toda la oblea de 300 mm.
Metrología de precisión
El control de uniformidad, el monitoreo de defectos de cristal y la gestión de procesos in situ garantizan la coherencia desde el centro de la oblea hasta el borde.
Garantía de calidad integral
Cada oblea se valida mediante:
AFM, Raman y XRD
Mapeo de defectos de oblea completa
Análisis de rugosidad y deformación de superficies.
Mediciones de propiedades eléctricas.
| Calificación | Sustrato de SiC tipo N de 8 pulgadas | ||
| 1 | politipo | -- | 4HSiC |
| 2 | Tipo de conductividad | -- | norte |
| 3 | Diámetro | milímetros | 200,00±0,5 mm |
| 4 | Espesor | mmm | 700±50 µm |
| 5 | CristalSuperficieOrientaciónEje | grado | 4,0°hacia±0,5° |
| 6 | Profundidad de muesca | milímetros | 1~1,25 mm |
| 7 | Orientación de muesca | grado | ±5° |
| 8 | Resistividad (promedio) | Ωcm | N / A |
| 9 | televisión | mmm | N / A |
| 10 | TVL | mmm | N / A |
| 11 | Arco | mmm | N / A |
| 12 | Urdimbre | mmm | N / A |
| 13 | MPD | cm-2 | N / A |
| 14 | TSD | cm-2 | N / A |
| 15 | TLP | cm-2 | N / A |
| 16 | TED | cm-2 | N / A |
| 17 | DEP | cm-2 | N / A |
| 18 | Politipos extranjeros | -- | N / A |
| 19 | SF(BSF)(tamaño de cuadrícula de 2x2 mm) | % | N / A |
| 20 | TUA (área utilizable total) (tamaño de cuadrícula de 2x2 mm) | % | N / A |
| 21 | Exclusión de borde nominal | milímetros | N / A |
| 22 | Arañazos visuales | -- | N / A |
| 23 | Longitud acumulativa de arañazos (SiSurface) | milímetros | N / A |
| 24 | siface | -- | CMPpulido |
| 25 | Cara CF | -- | CMPpulido |
| 26 | Rugosidad superficial (Siface) | Nuevo Méjico | N / A |
| 27 | Rugosidad de la superficie (Cface) | Nuevo Méjico | N / A |
| 28 | marcado láser | -- | Cara C, encima de la muesca |
| 29 | Edgechip (superficies delanteras y traseras) | -- | N / A |
| 30 | placas hexagonales | -- | N / A |
| 31 | Grietas | -- | N / A |
| 32 | Partícula (≥0.3um) | -- | N / A |
| 33 | Contaminación del área (manchas) | -- | Ninguno:Ambas caras |
| 34 | Contaminación por metales residuales (ICP-MS) | átomo/cm2 | N / A |
| 35 | Perfil de borde | -- | Chaflán, forma de R |
| 36 | Embalaje | -- | Cassette multioblea o contenedor de oblea única |
Las obleas epitaxiales de SiC permiten la producción en masa de dispositivos de energía confiables en sectores que incluyen:
Vehículos eléctricos (EV)
Inversores de tracción, cargadores a bordo y convertidores CC/CC.
Energía Renovable
Inversores de string solares, convertidores de energía eólica.
Accionamientos industriales
Accionamientos de motor eficientes, servosistemas.
Infraestructura 5G/RF
Amplificadores de potencia e interruptores RF.
Electrónica de Consumo
Fuentes de alimentación compactas y de alta eficiencia.
1. ¿Cuál es el beneficio de las obleas de SiC de 8”?
Reducen significativamente el costo de producción por chip mediante un aumento del área de oblea y del rendimiento del proceso.
2. ¿Qué tan madura está la producción de SiC de 8”?
8” está entrando en producción piloto con líderes selectos de la industria; nuestras obleas ya están disponibles para investigación y desarrollo y aumento de volumen.
3. ¿Se puede personalizar el dopaje y el espesor?
Sí, está disponible la personalización completa del perfil de dopaje y el espesor del epi.
4. ¿Las fábricas existentes son compatibles con las obleas de SiC de 8”?
Se necesitan actualizaciones menores del equipo para una compatibilidad total con 8”.
5. ¿Cuál es el plazo de entrega típico?
6 a 10 semanas para pedidos iniciales; más corto para volúmenes repetidos.
6. ¿Qué industrias adoptarán el SiC de 8” más rápidamente?
Sectores de automoción, energías renovables e infraestructura de redes.
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